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隨著現(xiàn)代工業(yè)技術的不斷發(fā)展，對于材料的質(zhì)量和安全性的要求越來越高，而在生產(chǎn)過程中，常常需要對各種材料進行無損檢測，以保證其質(zhì)量和安全性。超聲波探傷儀就是一種廣泛應用于工業(yè)領域的無損檢測設備，它利用了超聲波的物理特性，能夠快速、準確地檢測出材料內(nèi)部的缺陷，并且不會對被測材料造成任何影響。超聲波探傷儀原理比較簡單，主要是通過發(fā)射超聲波，然后接收回波信號，根據(jù)信號強度和時間差來判斷被測材料內(nèi)部是否存在缺陷。超聲波探傷儀可以探測到許多類型的材料缺陷，如裂紋、氣孔、夾雜、異物等，而且探...

計算機斷層掃描系統(tǒng)檢測主要用于檢測高密度和大尺寸物體，應用高能量X射線探，需有更高的系統(tǒng)分辨力等等。目前計算機斷層掃描系統(tǒng)技術的應用十分廣泛；在汽車等制造領域，可以用于零部件的缺陷檢測、質(zhì)量控制和實效分析；在電子行業(yè)，可以用于芯片封裝多余物檢測、封裝工藝改進和逆向設計;在航空航天領域可用于產(chǎn)品質(zhì)量控制、裝配工藝分析；總之，凡是需要觀測樣品內(nèi)部結構的場合都能用到計算機斷層掃描系統(tǒng)，是一種十分理想的無損檢測手段。計算機斷層掃描系統(tǒng)常用的CT掃描模式有II代掃描、III代掃描。II...

計算機斷層掃描系統(tǒng)能在不破壞工件結構的情況下實現(xiàn)模具及模具產(chǎn)品的表面和內(nèi)部結構的幾何尺寸以及曲面測量，計算出測量目標的長寬高、面積、表面積、體積等各種幾何參數(shù)，實現(xiàn)零件與CAD模型對比、幾何尺寸與公差（GD＆T）分析、零件與零件對比。同時可實現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)部多種缺陷(如裂紋、氣泡、夾雜、疏松、脫粘、裝配缺陷等)的無損檢測和無損質(zhì)量評價，檢測對象也幾乎涵蓋了各種材質(zhì)和各種結構類型的模具及模具產(chǎn)品。對已知工件，可以通過計算機斷層掃描系統(tǒng)檢測掃描，直接得出該工件的三維立體圖，指導模具設計...

氮氣氣體發(fā)生器可為氣相色譜提供穩(wěn)定的氫氣氣源，操作簡單，只需啟動電源開關，即可產(chǎn)氣，輸出壓力穩(wěn)定，流量由LED數(shù)碼顯示，更直觀醒目。發(fā)生器電解槽的類型，即：堿性電解槽、基于離子交換技術的聚合物薄膜電解槽和固體氧化物電解槽。氮氣氣體發(fā)生器主要由電解系統(tǒng)、壓力控制系統(tǒng)、凈化系統(tǒng)和顯示系統(tǒng)組成。通過電解水產(chǎn)生氫氣，產(chǎn)生的氧氣則放空進入大氣。具有電解面積大、池溫低、性能好、產(chǎn)氣量大、純度高的優(yōu)點。氮氣氣體發(fā)生器的使用方法：開機時，先用原料氫置換系統(tǒng)，從閥3放空，待系統(tǒng)內(nèi)的高純氮置換干...

聲掃顯微鏡專門用于觀察金屬和礦物等不透明物體金相組織的顯微鏡。這些不透明物體無法在普通的透射光顯微鏡中觀察，因此金相和普通顯微鏡的主要差別在于前者以反射光，而后者以透射光照明。在金相顯微鏡中照明光束從物鏡方向射到被觀察物體表面，被物面反射后再返回物鏡成像。這種反射照明方式也廣泛用于集成電路硅片的檢測工作。聲掃顯微鏡將光學顯微鏡技術、光電轉(zhuǎn)換技術、計算機圖像處理技術完美地結合在一起而開發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計算機上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進行分析，評級等以及對...

實驗室離心機是利用離心力，不同物質(zhì)在離心場中沉淀速度的差異，對混合溶液進行快速分離的專門設備，是一種將裝有樣品溶液的離心管、瓶或袋的轉(zhuǎn)頭置于離心軸上，利用轉(zhuǎn)頭繞軸高速旋轉(zhuǎn)所產(chǎn)生的強大離心力，使樣品中不同性質(zhì)顆粒相互分離的特殊裝置，可以實現(xiàn)樣品的分析、分離。下面我們來看看實驗室離心機維護保養(yǎng)方式：1、實驗室離心機必須嚴格按照使用說明書操作，每次使用前后要保證儀器內(nèi)外的干燥及衛(wèi)生；2、實驗室離心機使用后離心腔內(nèi)及時用中性洗滌劑清潔并用軟布擦干，不允許用非中性清潔劑擦洗轉(zhuǎn)子，防止化...

微焦點X射線實時成像系統(tǒng)可以用于所有X、γ射線裝置的防護水平檢測，尤其適用于工業(yè)脈沖X光機及醫(yī)學攝影用X光機機房的泄露水平檢測，同時適用于脈沖反應堆的感興趣區(qū)域劑量率檢測。是放射衛(wèi)生評價、環(huán)境影響評價、科學試驗監(jiān)測、國土安全檢測、核應急場合的理想檢測儀。微焦點X射線實時成像系統(tǒng)主要是檢測半導體接線處的焊接問題，焊接容易出現(xiàn)虛焊、漏焊等缺陷，一旦形成這些缺陷，半導體就容易出現(xiàn)短路等問題，為了半導體元件的正常使用，在焊接完成后需要進行缺陷檢測。是目前市場上用于樣品內(nèi)部檢測的設備，...

計算機斷層掃描系統(tǒng)可按國家標準測量CT伏安特性及曲線、5%、10%誤差曲線、直阻、變比極性；可測裝在變壓器中的套管CT;可直接測量電壓互感器的變比；可定性測量電壓互感器的比差和極性；可現(xiàn)場測量電流和電壓互感器的實際二次負荷等等。計算機斷層掃描系統(tǒng)的系統(tǒng)性能指標：掃描模式：常用的CT掃描模式有II代掃描、III代掃描。III代掃描具有更高的效率，但是容易由于校正方法不佳而導致環(huán)狀偽影（所以減弱或消除環(huán)狀偽影是體現(xiàn)CT系統(tǒng)制造商技術水平的主要內(nèi)容之一）；II代掃描效率大約是III...